Hohe Auflösung, sehr plastische Bildgebung, große Tiefenschärfe: Die Vorteile des Rasterelektronemikroskops (REM) machen es zu einem Standard-Werkzeug in der Materialwissenschaft. Anhand von Proben aus Metallen, Keramiken und Polymeren wird illustriert, wie das REM zur Materialcharakterisierung verwendet werden kann.

Vortragender: Univ.Prof. Jürgen Stampfl

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